關(guān)于基體的要求：

1.基體必須為磁性金屬，如鋼板、鎳、鐵等都是含磁金屬。

2.基體金屬的厚度： 每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響?？齐娡繉訙y(cè)厚儀的臨界厚度值：工件鐵基厚度大于1mm時(shí)，其涂（鍍）層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度影響。

關(guān)于測(cè)試工件的要求：

1.本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

2.  試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上zui小曲率要求半徑： 凸:1.5mm 凹:6mm

其他：

探頭在使用是主要保持垂直測(cè)量，這樣得出的示值才會(huì)穩(wěn)定，其他類型測(cè)厚儀亦如此。   

 注意：由于儀器的每次讀數(shù)并不完全相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。（此參考說(shuō)明書上檢測(cè)方法）